1、仪器一定要有良好的使用环境
等离子体光谱与其它大型精密仪器一样,光谱仪用途,需要在一定的环境下运行,失去这些条件,不仅仪器的使用效果不好,而且改变仪器的检测性能,甚至造成损坏,缩短寿命。根据光学仪器的特点,对环境温度和湿度有一定要求。如果温度变化太大,光学元件受温度变化的影响就会产生谱线漂移,造成测定数据不稳定,一般室温要求维持在20~25摄氏度间的一个固定温度,温度变化应小于±1摄氏度。而环境湿度过大,光学元件,特别是光栅容易受潮损坏或性能降低。电子系统,尤其是印刷电路板及高压电源上的元件容易受潮烧坏。湿度对高频发生器的影响也十分重要,湿度过大,轻则等离子体不容易点燃,重则高压电源及高压电路放毁元件,如功率管隔直陶瓷电容击穿,输出电路阻抗匹配、网络中的可变电容放电等,以至损坏高频发生器。一般室内湿度应小于百分之70,控制在百分之45~60之间,应有空气净化装置。过去由于基建施工,我们的环境条件很差,甚至仪器室多次被水淹,受潮及室温变化过大,仪器不是定位困难就是经常发生故障。搬到新的仪器室后条件改善了,仪器运行就正常多了。
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产品信息(EDX8300)
专业针对RoHS检测设计开发
分析测量ROHS有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br效果甚佳
仪器特点
?采用自主研发的SES,加强实际有效信号,六盘水光谱仪,测量更准确
?六种光路准直过滤系统,根据不同样品自动切换,测试更准确
?采用新的电制冷硅针半导体探测器,P/B值[峰背比]达到6200,数据分析更准确
?超大样品放置腔,更方便测试大样品
?简洁大方、独特的外形设计,精湛的工艺,大幅降低辐射,更加安全可靠
?多重高压保护系统,并附带温度监控, 让仪器工作更稳定
?专业针对ROHS开发的测试软件,操作界面十分友好
?自动选择校准曲线,光谱仪价格,多种谱图数据处理方法,使数据测量更准确
仪器主要技术指标
?样品腔尺寸:610mm*320 mm *100mm
?采用电制冷硅针半导体探测器,能量分辨率为: 165±5 eV
?高压电源,上限输出功率为5W(电压:5-50kV 电流:50-1000uA)
?X射线管,灯丝电流下限输出1mA
?仪器工作温度: 15-30℃
?仪器工作电源:交流 220±5V(建议配置交流净化稳压电源)
?重量:45kg
?测量元素: 从硫至铀等 75 种元素
?RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br) 检测上限达 1ppm
?测量时间: 100-300s
?自带六种光路准直过滤系统
?三重安全保护模式
?相互独立的基体效应校正模型
?专门针对ROHS开发的测试软件,自动选择工作校准曲线,界面友好,使用方便
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X射线荧光光谱仪原理图
X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)仪的原理主要基于:原子受到X射线的作用,其内层电子被激发,形成空穴,原子处于不稳定的激发态。为了回到稳态,原子的外层电子会跃迁回内层,多余的能量以荧光形式释放出来,被侦测器检测到,通过此来做分析。通常,可以将X射线荧光光谱分析仪可分为波长色散性和能量色散性。共元素干扰在日常的分析工作中,XRF这种分析方法经常会出现共元素干扰。这种共元素干扰的问题主要起源于X荧光射线侦测器对于X荧光射线的分辨率的限制所致,只要是XRF都会遭遇到相同的问题。共元素干扰主要分为三类:两相近共元素干扰、加乘波峰、逃离波峰。
(1)两相近共元素干扰:由于两元素在能谱图上的位置相近,以至于侦测器无法分别出两者之间的差距。如铅(La10.55Kv)、(Ka10.54Kv)。
(2)加乘波峰:由于某元素的浓度异常高,此时发出大量X荧光射线,而侦测器无法及时处理,将在能谱两倍的位置上出现一根波峰。如大量的铁(Ka6.4Kv),会在能谱12.8Kv处出一根小波峰。造成误判。但此种情形极为少见。
(3)逃离波峰:由于某元素的浓度异常高,此时发出大量X荧光射线,而侦测器无法及时处理,光谱仪买卖,将在此元素的能谱位置前一个硅Ka的能谱距离多出一根小波峰而造成误判,但情形极少出现。如锡(Ka25.27K)-硅(Ka1.74Kv)=23.53Kv≈镉(Ka23.17 Kv)。
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